Фундаментальные основы анализа нанопленок
| ISBN | 978-5-91522-225-9 |
| Автор | Алфорд Т.Л., Фельдман Л.К., Майер Д.В. |
| Издательство | Научный мир |
| Переплет | пер. |
| Формат | 70х100/16 |
| Серия | Фундаментальные основы нанотехнологий: исследования и разработки |
| Вес, гр | 645 |
| Год | 2012 |
| Стр. | 392 |
| ID | 49МК |